庆祝浙江八达电子仪表有限公司从我司订购高插件118A晶振测试仪一台

CX-118A型晶振测试仪

  1.概述

  CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

  2.主要特征

  2.1 本机采用倒数计数技术,测量高,测量范围宽,真正实现等测量,测量速度快,灵敏度高。

  2.2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。

  2.3 整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h。

  整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。

  3.技术参数

  3.1 测量范围

  频率测量:A通道:1Hz~100MHz;

  B通道:100MHz~1.6GHz(选件)

  周期测量:A通道:10ns~1s

  PPM测量:-9999~9999ppm

  上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。

  分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之间任意设置

  分档档数:以中心频率F0为中点左右分成16档

  累加计数:计数容量:0~109-1 (选件)

  计数方式:键控、门控或外门控可选。

  3.2 输入特性

  输入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF

  B通道: 50Ω

  3.2.2 输入耦合方式:AC

  3.2.3 波形适应性:正弦波、脉冲波

  输入电压动态范围:

  A通道:30mVrms~250Vp~p

  B通道: 30mVrms~1Vrms

  3.2.5 A通道低通滤波器:-3dB 带宽约100kHz

  3.2.6 A通道衰减:×1或×20

  3.3 测量误差

  3.3.1 频率或周期测量误差:±时基误差±触发误差±LSD

  100ns

  其中:LSD=─────×被测频率(或被测周期)

  闸门时间

  触发误差:当被测信号的信噪比为40dB时,触发误差≤0.3%

  PPM测量误差:±时基误差±触发误差±LSD

  其中:LSD=(100ns/闸门时间)×106ppm

  例如:闸门时间=1s时 LSD=0.1ppm

  闸门时间=0.1s时 LSD=1ppm

  3.3.3 计数误差:±1

  3.4闸门时间

  固定闸门:10ms、100ms、1s、10s 四档可选;

  可调闸门:50ms~95ms 分10档,每档间隔5ms。

  3.5 晶体振荡器

  标称频率:10MHz

  频率稳定度:5×10-6/d

  (可根据用户需求,选配更高量级的晶振。如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。

  3.6 外频标输入

  输入频率:10MHz

  输入幅度 gt;1Vp~p 正弦波

  3.7 显示

  13位0.4吋绿色高亮数码管,三个单位LED指示灯(MHz、kHz、Hz),一个闸门LED指示灯(GATE),一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯(PPM)。

  3.8 电源

  电压:交流220V±10%

  频率:50Hz±5%

  功耗 lt;8VA

  3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)

  3.10 质量 lt;1.5kg

  晶振测试盒(晶体测量匹配器)选配:

  1Hz-20MHz(标配自带);

  20MHz-40MHz(需另购),

  40MHz-65MHz(需另购);

  65MHz-100MHz(需另购)。

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