庆祝浙江八达电子仪器有限公司从我司订购高晶振测试仪一台
JC-3195A高晶振测试仪
详细资料
1． 概述
JC-3195A高晶振测试仪是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（机内带可调负载电容12.5pF～50pF，且等效电阻和谐振频率直接读数，激励功率可调）。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。
2． 技术参数
频率范围： 1 ~ 60 MHz
频段划分：
1 ~ 2.2 MHz
2. 2.2 ~ 5 MHz
3. 5 ~ 10 MHz
4. 10 ~ 20 MHz
5. 20 ~ 40 MHz
6. 40 ~ 60 MHz
测量网络的终端电阻：源端 24 Ω；负载端 27 Ω。
起振电阻范围：
1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω；
10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。
阻值读数范围：
0 ~ 1999.9 Ω 误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。
激励功率范围： 1.5 ~ 1200μW 误差±25%
负载电容范围： 12.5~50pF
频率计测量准确度： 5 PPM。
频率计数字显示： 8位。
时基稳定性： 短期：1×10 –7 / 秒 长期：2×10 –5 / 月。
[可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10 –8／日]。
使用环境：
a．环境温度：20℃±2℃；
b．相对湿度：（45 ~ 75）%；
c．大气压强：86 ~ 106 kPa；
d．避免外电磁场干扰，避免阳光直射。
安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。
使用电源：220 V ± 2 %，50 Hz±1%。
连续工作时间：8小时。
消耗功率：小于25 W。
外形尺寸：380 mm（宽） X 150 mm（高） X 290 mm（深）。
重量： 约 7 kg
